基本信息:
- 专利标题: 荷電粒子ビーム発生装置、荷電粒子線装置、高電圧発生装置、および高電位装置
- 专利标题(英):Charged particle beam generator, a charged particle beam apparatus, high-voltage generator, and a high potential device
- 专利标题(中):的带电粒子束发生器,带电粒子束的装置,高电压发生器和高电位装置
- 申请号:JP2012132103 申请日:2012-06-11
- 公开(公告)号:JP5959326B2 公开(公告)日:2016-08-02
- 发明人: 大西 崇 , 渡辺 俊一 , 金田 実
- 申请人: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 申请人地址: 東京都港区西新橋一丁目24番14号
- 专利权人: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 当前专利权人: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 当前专利权人地址: 東京都港区西新橋一丁目24番14号
- 代理人: 平木 祐輔; 関谷 三男; 渡辺 敏章
- 主分类号: H01J37/067
- IPC分类号: H01J37/067 ; H01J37/16 ; H01J37/248
公开/授权文献:
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01J | 放电管或放电灯 |
------H01J37/00 | 有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,如为了对其检验或加工的 |
--------H01J37/02 | .零部件 |
----------H01J37/04 | ..电极装置及与产生或控制放电的部件有关的装置,如电子光学装置,离子光学装置 |
------------H01J37/06 | ...电子源;电子枪 |
--------------H01J37/067 | ....枪部件的替换;电极的相互调整 |