基本信息:
- 专利标题: センサ基板及びそれを用いたアレイ基板
- 专利标题(英):The sensor substrate and the array substrate using the same
- 专利标题(中):传感器基板和使用该阵列基板
- 申请号:JP2012514705 申请日:2011-05-09
- 公开(公告)号:JP5824646B2 公开(公告)日:2015-11-25
- 发明人: 中谷 将也 , 高橋 誠 , 岡 卓也
- 申请人: パナソニックIPマネジメント株式会社
- 申请人地址: 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号
- 专利权人: パナソニックIPマネジメント株式会社
- 当前专利权人: パナソニックIPマネジメント株式会社
- 当前专利权人地址: 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号
- 代理人: 藤井 兼太郎; 鎌田 健司; 前田 浩夫
- 优先权: JP2010108876 2010-05-11
- 国际申请: JP2011002566 JP 2011-05-09
- 国际公布: WO2011142109 JP 2011-11-17
- 主分类号: G01N37/00
- IPC分类号: G01N37/00 ; G01N33/552 ; G01N33/543 ; G01N33/53
公开/授权文献:
- JPWO2011142109A1 センサ基板及びそれを用いたアレイ基板 公开/授权日:2013-07-22
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N37/00 | 不包含在本小类其他组中的细目 |