基本信息:
- 专利标题： Barkhausen noise inspection device
- 申请号：JP2010067450 申请日：2010-03-24
- 公开(公告)号：JP5579471B2 公开(公告)日：2014-08-27
- 发明人： 政敏 水谷 , 健一 鈴木 , 唯 増田
- 申请人： Ntn株式会社
- 专利权人： Ntn株式会社
- 当前专利权人： Ｎｔｎ株式会社
- 优先权： JP2010067450 2010-03-24
- 主分类号： G01N27/83
- IPC分类号： G01N27/83
公开/授权文献:
- JP2011196980A Barkhausen noise inspection device 公开/授权日：2011-10-06
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N27/00 | 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料 |
| --------G01N27/02 | .通过测试阻抗 |
| ----------G01N27/82 | ..用于测试缺陷的存在 |
| ------------G01N27/83 | ...通过测试杂散磁场 |