基本信息:
- 专利标题：
- 申请号：JP2009043605 申请日：2009-02-26
- 公开(公告)号：JP5489488B2 公开(公告)日：2014-05-14
- 优先权： JP2009043605 2009-02-26
- 主分类号： G01N23/225
- IPC分类号： G01N23/225 ; G01N23/203 ; H01J37/22
公开/授权文献:
- JP2010197269A Sample observation method 公开/授权日：2010-09-09
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/225 | ..利用电子或离子微探针 |