基本信息:
- 专利标题： Do not care bit extraction method and do not care bit extraction program
- 申请号：JP2009538142 申请日：2008-10-16
- 公开(公告)号：JP5221554B2 公开(公告)日：2013-06-26
- 发明人： 紘平 宮瀬 , 暁青 温 , 誠司 梶原
- 申请人： 株式会社Lptex
- 专利权人： 株式会社Lptex
- 当前专利权人： 株式会社Ｌｐｔｅｘ
- 优先权： JP2007272496 2007-10-19
- 主分类号： G01R31/3183
- IPC分类号： G01R31/3183 ; G01R31/28 ; H01L21/822 ; H01L27/04
公开/授权文献:
- JPWO2009051191A1 ドントケアビット抽出方法及びドントケアビット抽出プログラム 公开/授权日：2011-03-03
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/3183 | ....测试输入量的产生，例如测量矢量、图形或顺序 |