基本信息:
- 专利标题： Sample processing apparatus
- 申请号：JP2009155819 申请日：2009-06-30
- 公开(公告)号：JP5208868B2 公开(公告)日：2013-06-12
- 发明人： 孝明 長井 , 時弘 小坂 , 雄一 濱田
- 申请人： シスメックス株式会社
- 专利权人： シスメックス株式会社
- 当前专利权人： シスメックス株式会社
- 优先权： JP2008282055 2008-10-31; JP2009155819 2009-06-30
- 主分类号： G01N35/10
- IPC分类号： G01N35/10
公开/授权文献:
- JP2010133925A Specimen processing device 公开/授权日：2010-06-17
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N35/00 | 不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送 |
| --------G01N35/10 | .用于将样品传送给、传送入分析仪器或从分析仪器中输出样品的装置，例如吸入装置、注入装置 |