基本信息:
- 专利标题： Request-based test generation
- 申请号：JP2009539430 申请日：2007-11-27
- 公开(公告)号：JP5102304B2 公开(公告)日：2012-12-19
- 发明人： ヒックマン，スティーヴン・オー , バット，デヴェシュ
- 申请人： ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド
- 专利权人： ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド
- 当前专利权人： ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド
- 优先权： US86112106 2006-11-27; US94502107 2007-11-26
- 主分类号： G06F11/28
- IPC分类号： G06F11/28
公开/授权文献:
- JP2010511250A Request-based test generation 公开/授权日：2010-04-08