基本信息:
- 专利标题： Defect inspection method and apparatus of the surface to be inspected
- 申请号：JP28700097 申请日：1997-10-20
- 公开(公告)号：JP3460541B2 公开(公告)日：2003-10-27
- 发明人： 裕 鈴木
- 申请人： 日産自動車株式会社
- 专利权人： 日産自動車株式会社
- 当前专利权人： 日産自動車株式会社
- 优先权： JP28700097 1997-10-20
- 主分类号： G01N21/88
- IPC分类号： G01N21/88 ; G01N21/89
公开/授权文献:
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |