发明专利
JP2021167814A ディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法{ANALYSIS SYSTEM FOR DISPLAY DEVICE AND COLOR ANALYSIS METHOD THEREOF}
审中-公开
基本信息:
- 专利标题： ディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法{ANALYSIS SYSTEM FOR DISPLAY DEVICE AND COLOR ANALYSIS METHOD THEREOF}
- 专利标题（英）：ANALYSIS SYSTEM FOR DISPLAY DEVICE AND COLOR ANALYSIS METHOD THEREOF
- 申请号：JP2021066510 申请日：2021-04-09
- 公开(公告)号：JP2021167814A 公开(公告)日：2021-10-21
- 发明人： キム スンヒョン , チョイ ギリョン , オー ジニ , リー ユンヒョク
- 申请人： ビューワークス カンパニー リミテッド
- 申请人地址： 大韓民国、14055、ギョンギドウ、アンヤンシ、ドンガング、170ベオンジル、ブリムロ、41−3
- 专利权人： ビューワークス カンパニー リミテッド
- 当前专利权人： ビューワークス カンパニー リミテッド
- 当前专利权人地址： 大韓民国、14055、ギョンギドウ、アンヤンシ、ドンガング、170ベオンジル、ブリムロ、41−3
- 代理人： とこしえ特許業務法人
- 优先权： KR10-2020-0044219 2020-04-10
- 主分类号： G01M11/00
- IPC分类号： G01M11/00 ; G01J3/46
To provide: a system for analyzing a display device, which performs entire image photographing, color measurement and color analysis on a light emitting display device (OLED, QLED, AMOLED, and the like) at the same time, so that it is possible to rapidly measure colors and the inspection efficiency is improved; and a color analysis method thereof.SOLUTION: According to preferable embodiment, a system for analyzing a display device includes: an image photographing device configured to photograph an image for inspection output from a display device to be inspected, and obtain an RGB value for inspection from the photographed image; and an inspection control unit configured to convert the RGB value for inspection into a CIE XYZ value by using a previously prepared color conversion function, and determine the presence or absence of a defect of the display device to be inspected by using the converted CIE XYZ value.SELECTED DRAWING: Figure 1
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01M | 机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试 |
| ------G01M11/00 | 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 |