基本信息:
- 专利标题： 放射線撮影装置、放射線撮影方法、及びプログラム
- 申请号：JP2018184981 申请日：2018-09-28
- 公开(公告)号：JP2020054439A 公开(公告)日：2020-04-09
- 发明人： 池田 勇一
- 申请人： キヤノン株式会社
- 申请人地址： 東京都大田区下丸子3丁目30番2号
- 专利权人： キヤノン株式会社
- 当前专利权人： キヤノン株式会社
- 当前专利权人地址： 東京都大田区下丸子3丁目30番2号
- 代理人： 大塚 康徳; 大塚 康弘; 高柳 司郎; 木村 秀二; 下山 治; 永川 行光
- 主分类号： G01T1/17
- IPC分类号： G01T1/17 ; H04N5/32 ; H04N5/359 ; H04N5/361 ; A61B6/00
摘要：
【課題】残像アーチファクトを低減すること。 【解決手段】放射線に対して感度を有する第1の画素と、放射線に対して感度を有さない第2の画素とが、画素領域内に複数配置された検出手段を用いて放射線画像の撮影を行う放射線撮影装置は、放射線を照射しない状態で第1の画素から取得した画像と第2の画素からの出力に基づいて取得した画像との差分情報に基づき、放射線を照射した状態で第1の画素から取得した放射線画像を補正する補正手段を備える。 【選択図】図1
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01T | 核辐射或X射线辐射的测量 |
| ------G01T1/00 | X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量 |
| --------G01T1/16 | .辐射强度测量 |
| ----------G01T1/17 | ..专用型探测器以外的电路装置 |