基本信息:
- 专利标题： フーリエ分光分析装置
- 申请号：JP2017178656 申请日：2017-09-19
- 公开(公告)号：JP2019052994A 公开(公告)日：2019-04-04
- 发明人： 鈴木 泰幸 , 中村 幸弘 , 西 真志 , 生田目 哲志
- 申请人： 横河電機株式会社
- 申请人地址： 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号
- 专利权人： 横河電機株式会社
- 当前专利权人： 横河電機株式会社
- 当前专利权人地址： 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号
- 代理人： 棚井 澄雄; 佐伯 義文; 高橋 久典; 沖田 壮男
- 主分类号： G01N21/27
- IPC分类号： G01N21/27 ; G01J3/45
摘要：
【課題】光学特性の時間変動が生ずる試料であっても、高い分析精度を実現することが可能なフーリエ分光分析装置を提供する。 【解決手段】フーリエ分光分析装置1は、干渉光であるインターフェログラムL1を分析対象である試料SPに照射し、試料SPを介した光L2を受光して得られる受光信号に対してフーリエ変換処理を行って、試料SPを介した光L2のスペクトルを求めるものであり、試料SPを介した光L2に含まれる波長成分のうち、スペクトルを求める波長帯域である第1波長帯域の波長成分を受光して得られる受光信号S1と、第1波長帯域とは異なる第2波長帯域の波長成分を受光して得られる受光信号S2とを出力する受光部30と、受光信号S1,S2を用いて、第1波長帯域の波長成分の、雑音を除去したスペクトルを求める処理を行う信号処理装置40と、を備える。 【選択図】図1
公开/授权文献:
- JP6965654B2 フーリエ分光分析装置 公开/授权日：2021-11-10
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
| ------------G01N21/27 | ...利用光电检测 |