基本信息:
- 专利标题： 解析方法、解析プログラム、および解析装置
- 专利标题（英）：JP2018025434A - Analysis method, analysis program and analyzer
- 申请号：JP2016156441 申请日：2016-08-09
- 公开(公告)号：JP2018025434A 公开(公告)日：2018-02-15
- 发明人： 佐々木 栄一 , 田村 洋 , 蛯沢 佑紀 , 小林 裕介 , 竹谷 晃一 , 阿久津 絢子 , 菅沼 久忠 , 田辺 篤史
- 申请人： 国立大学法人東京工業大学
- 申请人地址： 東京都目黒区大岡山2丁目12番1号
- 专利权人： 国立大学法人東京工業大学
- 当前专利权人： 国立大学法人東京工業大学
- 当前专利权人地址： 東京都目黒区大岡山2丁目12番1号
- 代理人： 棚井 澄雄; 大浪 一徳; 伏見 俊介; 西澤 和純
- 主分类号： G01B7/06
- IPC分类号： G01B7/06 ; G01N27/90
摘要：
【課題】簡易かつ正確に解析対象の特性を解析することができる解析方法、解析プログラム、および解析装置を提供すること。 【解決手段】第1周波数の交流電気信号を第1コイルに印加して解析対象を励磁し、前記解析対象に第1渦電流を生成し、前記第1渦電流により発生した磁界により第2コイルに発生した電圧に応じた第1電気的状態量を測定し、第2周波数の交流電気信号を前記第1コイルに印加して前記解析対象を励磁し、前記解析対象に第2渦電流を生成し、前記第2渦電流により発生した磁界により前記第2コイルに発生した電圧に応じた第2電気的状態量を測定し、前記第1電気的状態量および前記第2電気的状態量に基づいて、前記解析対象の厚さ方向の特性を解析する、解析方法。 【選択図】図10
公开/授权文献:
- JP6792859B2 解析方法、解析プログラム、および解析装置 公开/授权日：2020-12-02
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B7/00 | 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 |
| --------G01B7/004 | .用于测量各点的坐标 |
| ----------G01B7/06 | ..用于计量厚度 |