发明专利
JP2011513751A xrf system having a plurality of excitation energy zone in an enclosure which is highly aligned
有权
基本信息:
- 专利标题: xrf system having a plurality of excitation energy zone in an enclosure which is highly aligned
- 申请号:JP2010549809 申请日:2009-03-03
- 公开(公告)号:JP2011513751A 公开(公告)日:2011-04-28
- 发明人: セムケン アール.スコット , ベイリー アダム , エム.ギブソン ウォルター , エイチ.バーデット ジュニア ジョン , カイ シン , チェン ゼウ , エム.ギブソン デビッド
- 申请人: エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド
- 专利权人: エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド
- 当前专利权人: エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド
- 优先权: US3389908 2008-03-05; US3922008 2008-03-25; US4297408 2008-04-07
- 主分类号: G01N23/223
- IPC分类号: G01N23/223
X-ray analysis apparatus for illuminating a sample spot with an X-ray beam. X-ray tube is provided with a source spot from which source spot, divergent X-ray beam having a first characteristic energy and bremsstrahlung energy is generated, the first X-ray optic is divergent X-ray beam received light, toward the beam on the sample spot while monochromatic this beam, the second X-ray optical components receiving the divergent X-ray beam, the beam this beam to the sample spot while monochromatic in the second of energy turn. The first X-ray optic can be a single color the characteristic energy from the source spot, the second X-ray optical component can be monochromatic bremsstrahlung energy from the source spot. X-ray optics receives the divergent X-ray beam from the X-ray tube may be curved diffracting optic for focusing the beam to a sample spot. Detection is also carried out by, for example, to detect a variety of toxins in the products manufactured, including the toys and electronics measurement.
公开/授权文献:
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料,例如X射线、中子 |
--------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
----------G01N23/223 | ..通过用X射线辐照样品以及测量X射线荧光 |