![MONITORING APPARATUS FOR QUALITY MONITORING](/ep/2023/11/15/EP4275150A1/abs.jpg.150x150.jpg)
基本信息:
- 专利标题: MONITORING APPARATUS FOR QUALITY MONITORING
- 申请号:EP22712281.9 申请日:2022-02-22
- 公开(公告)号:EP4275150A1 公开(公告)日:2023-11-15
- 发明人: FRIKHA, Ahmed , GRUBER, Sebastian , KROMPASS, Denis , KÖPKEN, Hans-Georg
- 申请人: Siemens Aktiengesellschaft
- 申请人地址: DE 80333 München Werner-von-Siemens-Straße 1
- 代理机构: Siemens Patent Attorneys
- 优先权: EP21159395 20210225
- 国际公布: WO2022180048 20220901
- 主分类号: G06N3/04
- IPC分类号: G06N3/04 ; G05B13/02 ; G05B19/418 ; G06N3/08 ; G06N7/00
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G06 | 计算;推算;计数 |
----G06N | 基于特定计算模型的计算机系统 |
------G06N3/00 | 基于生物学模型的计算机系统 |
--------G06N3/02 | .采用神经网络模型 |
----------G06N3/04 | ..体系结构,例如,互连拓扑 |