发明公开
EP3309544A1 METHOD AND SYSTEM FOR IN-PROCESS MONITORING AND QUALITY CONTROL OF ADDITIVE MANUFACTURED PARTS
审中-公开
基本信息:
- 专利标题： METHOD AND SYSTEM FOR IN-PROCESS MONITORING AND QUALITY CONTROL OF ADDITIVE MANUFACTURED PARTS
- 专利标题（中）：用于加工制造零件的过程监控和质量控制的方法和系统
- 申请号：EP17195929.9 申请日：2017-10-11
- 公开(公告)号：EP3309544A1 公开(公告)日：2018-04-18
- 发明人： DEHGHANNIRI, Ehsan , KOTTILINGAM, Srikanth Chandrudu
- 申请人： General Electric Company
- 申请人地址： 1 River Road Schenectady, NY 12345 US
- 专利权人： General Electric Company
- 当前专利权人： General Electric Company
- 当前专利权人地址： 1 River Road Schenectady, NY 12345 US
- 代理机构： Foster, Christopher Michael
- 优先权： US201615290078 20161011
- 主分类号： G01N29/04
- IPC分类号： G01N29/04 ; G01N29/14 ; G01N29/44 ; B33Y10/00
摘要：
A method (700) for in-process monitoring of a 3D manufacturing apparatus (100) or quality control of a 3D manufactured structure (140) is provided. The method (700) includes a generating step (710) that generates an acoustic wave in the 3D manufactured structure (140). A receiving step (720) receives the acoustic wave with a microphone array (160). An analyzing step (730) analyzes a frequency spectrum of the acoustic wave. A determining step (740) determines if the frequency spectrum indicates a defect in the 3D manufactured structure (140).
摘要（中）：
提供了用于3D制造装置（100）的过程中监控或3D制造结构（140）的质量控制的方法（700）。 方法（700）包括在3D制造结构（140）中生成声波的生成步骤（710）。 接收步骤（720）用麦克风阵列（160）接收声波。 分析步骤（730）分析声波的频谱。 确定步骤（740）确定频谱是否指示3D制造结构（140）中的缺陷。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N29/00 | 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像 |
| --------G01N29/04 | .固体分析 |