EP2943773B1 VERFAHREN ZUM RÄUMLICH HOCHAUFGELÖSTEN ABBILDEN EINER EINEN LUMINOPHOR AUFWEISENDEN STRUKTUR EINER PROBE
有权
基本信息:
- 专利标题： VERFAHREN ZUM RÄUMLICH HOCHAUFGELÖSTEN ABBILDEN EINER EINEN LUMINOPHOR AUFWEISENDEN STRUKTUR EINER PROBE
- 专利标题（英）：EP2943773B1 - Method for spatially high-resolved imaging of a structure of a sample comprising a luminophore
- 申请号：EP14701302.3 申请日：2014-01-09
- 公开(公告)号：EP2943773B1 公开(公告)日：2018-08-15
- 发明人： HELL, Stefan W.
- 申请人： Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
- 申请人地址： Hofgartenstraße 8 80539 München DE
- 专利权人： Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
- 当前专利权人： Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
- 当前专利权人地址： Hofgartenstraße 8 80539 München DE
- 代理机构： REHBERG HÜPPE + PARTNER
- 优先权： DE102013100174 20130109
- 国际公布： WO2014108453 20140717
- 主分类号： G01N21/17
- IPC分类号： G01N21/17 ; G01N21/64
公开/授权文献:
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/17 | .入射光根据所测试的材料性质而改变的系统 |