基本信息:
- 专利标题： ADSORBENT GAS ANALYSIS DEVICE AND ADSORBENT GAS ANALYSIS METHOD
- 专利标题（中）：VORRICHTUNG ZUR ANALYZE EINES ADSORPTIONSGASES UND VERFAHREN ZUR ANALYZE EINES ADSORPTIONSGASES
- 申请号：EP12829660.5 申请日：2012-09-03
- 公开(公告)号：EP2755013A1 公开(公告)日：2014-07-16
- 发明人： ITAYA, Takahiro , NAKATANI, Shigeru
- 申请人： HORIBA, Ltd.
- 申请人地址： 2 Miyanohigashi-cho Kisshoin Minami-ku Kyoto-shi Kyoto 601-8510 JP
- 专利权人： HORIBA, Ltd.
- 当前专利权人： HORIBA, Ltd.
- 当前专利权人地址： 2 Miyanohigashi-cho Kisshoin Minami-ku Kyoto-shi Kyoto 601-8510 JP
- 代理机构： Müller - Hoffmann & Partner
- 优先权： JP2011196360 20110908
- 国际公布： WO2013035657 20130314
- 主分类号： G01N1/00
- IPC分类号： G01N1/00 ; G01N1/22 ; G01N21/03 ; G01N21/15 ; G01N21/35 ; G01N31/00
摘要：
In order to make it possible to conduct a measurement of an adsorbent gas on a real time basis under various conditions by decreasing a response delay during the measurement of the adsorbent gas, an adsorbent gas analysis device comprises a gas measurement mechanism (21) that measures a value relating to a volume of the adsorbent gas flowing in a gas pipe (1) and a gas injection mechanism (3) that injects a predetermined volume of the adsorbent injection gas into the gas pipe (1) from a point locating in an upstream side of a measurement point where the gas measurement mechanism (21) measures the adsorbent gas at least while the gas measurement mechanism (21) is measuring the adsorbent gas.
摘要（中）：
为了能够通过在吸附气体的测定中减少响应延迟，在各种条件下实时地进行吸附气体的测定，吸附剂气体分析装置包括气体测量机构（21），其测量 与气体管道（1）中流动的吸附剂气体的体积和气体注入机构（3）相关的值，其从位于上游侧的点向气体管道（1）喷射预定体积的吸附剂注入气体 至少在气体测量机构（21）测量吸附剂气体时气体测量机构（21）测量吸附剂气体的测量点的一侧。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N1/00 | 取样；制备测试用的样品 |