基本信息:
- 专利标题： Method of generating a susceptibility weighted MR image
- 专利标题（中）：生成磁化率加权MR图像的方法
- 申请号：EP13183095.2 申请日：2013-09-05
- 公开(公告)号：EP2708909A3 公开(公告)日：2017-09-13
- 发明人： Jo, Jae-moon , Park, Hyun-wook , Lee, Yoo-jin , Han, Ye-Ji
- 申请人： Samsung Electronics Co., Ltd. , Korea Advanced Institute of Science and Technology
- 申请人地址： 129, Samsung-ro Yeongtong-gu Suwon-si, Gyeonggi-do 443-742 KR
- 专利权人： Samsung Electronics Co., Ltd.,Korea Advanced Institute of Science and Technology
- 当前专利权人： Samsung Electronics Co., Ltd.,Korea Advanced Institute of Science and Technology
- 当前专利权人地址： 129, Samsung-ro Yeongtong-gu Suwon-si, Gyeonggi-do 443-742 KR
- 代理机构： Grootscholten, Johannes A.M.
- 优先权： KR20120103609 20120918; KR20130033671 20130328
- 主分类号： G01R33/56
- IPC分类号： G01R33/56 ; G01R33/565
摘要：
A method of generating a susceptibility weighted image of an object in a magnetic resonance imaging (MRI) apparatus includes: acquiring at least one first complex data piece corresponding to a radio frequency (RF) signal received from the object by using the RF signal; applying a predetermined filter to the at least one first complex data piece to acquire at least one second complex data piece; generating a susceptibility weighted mask by using the at least one second complex data piece; and applying the susceptibility weighted mask to an MRI image of the object to generate the susceptibility weighted image.
摘要（中）：
一种在磁共振成像（MRI）设备中生成对象的磁敏度加权图像的方法包括：通过使用RF信号来获取与从对象接收到的射频（RF）信号相对应的至少一个第一复数据段; 将预定滤波器应用于所述至少一个第一复合数据片以获取至少一个第二复合数据片; 通过使用所述至少一个第二复数据块来生成磁敏度加权掩码; 以及将所述磁敏度加权掩模应用于所述对象的MRI图像以生成所述磁敏度加权图像。
公开/授权文献:
- EP2708909A2 Method of generating a susceptibility weighted MR image 公开/授权日：2014-03-19
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R33/00 | 测量磁变量的装置或仪器 |
| --------G01R33/02 | .测量磁场或磁通量的方向或大小 |
| ----------G01R33/24 | ..用于测量磁场或磁通量的方向或大小 |
| ------------G01R33/46 | ...核磁共振频谱 |
| --------------G01R33/54 | ....信号处理系统，如使用脉冲序列 |
| ----------------G01R33/56 | .....图像增强或修正，如减法或平均技术 |