![APPARATUS AND METHOD OF DETECTING PROBE TIP CONTACT WITH A SURFACE](/ep/2010/06/16/EP1817557A4/abs.jpg.150x150.jpg)
基本信息:
- 专利标题: APPARATUS AND METHOD OF DETECTING PROBE TIP CONTACT WITH A SURFACE
- 专利标题(中):装置和方法检测之间探针和表面接触的
- 申请号:EP05851362 申请日:2005-11-03
- 公开(公告)号:EP1817557A4 公开(公告)日:2010-06-16
- 发明人: MOORE THOMAS M , ZAYKOVA-FELDMAN LYUDMILA
- 申请人: OMNIPROBE INC
- 专利权人: OMNIPROBE INC
- 当前专利权人: OMNIPROBE INC
- 优先权: US62465004 2004-11-03
- 主分类号: H01J37/26
- IPC分类号: H01J37/26
IPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01J | 放电管或放电灯 |
------H01J37/00 | 有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,如为了对其检验或加工的 |
--------H01J37/26 | .电子或离子显微镜;电子或离子衍射管 |