
基本信息:
- 专利标题: Modulation method and apparatus for thermally analyzing a material
- 专利标题(中):用于热分析的材料的调制方法和装置
- 申请号:EP00102396.9 申请日:2000-02-03
- 公开(公告)号:EP1132733B1 公开(公告)日:2005-12-14
- 发明人: Jörimann, Urs , Hütter, Thomas
- 申请人: Mettler-Toledo GmbH
- 申请人地址: Im Langacher 8606 Greifensee CH
- 专利权人: Mettler-Toledo GmbH
- 当前专利权人: Mettler-Toledo GmbH
- 当前专利权人地址: Im Langacher 8606 Greifensee CH
- 代理机构: Leinweber & Zimmermann
- 主分类号: G01N25/48
- IPC分类号: G01N25/48
公开/授权文献:
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N25/00 | 应用热方法测试或分析材料 |
--------G01N25/20 | .通过测量热的变化,即量热法,例如通过测量比热,测量热导率 |
----------G01N25/48 | ..不包括燃烧或催化氧化作用的溶解、吸收或化学反应 |