基本信息:

• 专利标题： System for measuring the integrity of an electrical contact
• 专利标题（中）：Vorrichtung zur Messung der Unversehrtheit eines elektrischen Kontakts。
• 申请号：EP94112262.4 申请日：1994-08-05
• 公开(公告)号：EP0653642A1 公开(公告)日：1995-05-17
• 发明人： Crook, David T. , Keirn, Kevin W. , Cilingiroglu, Ugur
• 申请人： Hewlett-Packard Company
• 申请人地址： 3000 Hanover Street Palo Alto, California 94304 US
• 专利权人： Hewlett-Packard Company
• 当前专利权人： Hewlett-Packard Company
• 当前专利权人地址： 3000 Hanover Street Palo Alto, California 94304 US
• 代理机构： Schoppe, Fritz, Dipl.-Ing.
• 优先权： US139362 19931019
• 主分类号： G01R31/312
• IPC分类号： G01R31/312 ; G01R31/04 ; H05K13/08

摘要：

Disclosed is a system that determines whether pins (12) of electrical components (10) such as connectors, switches, and sockets are present and properly soldered to a printed circuit board (14). The system uses an oscillator (20) which supplies a signal, typically ten kiloHertz (10 kHz) at 0.2 volts, to the pin under test. A conductive electrode (30) is placed on top of the component. The electrode is connected to a current measuring device. Another pin of the component is connected (50) to a common signal return (22).

摘要（中）：

公开了一种确定诸如连接器，开关和插座的电气部件（10）的引脚（12）是否存在并被适当地焊接到印刷电路板（14）的系统。 该系统使用振荡器（20），该振荡器（20）将0.2V的通常为10千赫兹（10kHz）的信号提供给被测试的引脚。 导电电极（30）放置在部件的顶部。 电极连接到电流测量装置。 该组件的另一个引脚连接（50）到一个公共信号返回（22）。

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