基本信息:

• 专利标题： Cartridge-free stacks of slide elements
• 专利标题（中）：KassettenloseObjektträger-Stapel。
• 申请号：EP92203921.9 申请日：1992-12-15
• 公开(公告)号：EP0547710A2 公开(公告)日：1993-06-23
• 发明人： Kildal, Maurice Alfred, c/o Eastman Kodak Company , Richardson, Frank Alton, c/o Eastman Kodak Company , Monsees, Claude Early, c/o Eastman Kodak Company
• 申请人： Johnson & Johnson Clinical Diagnostics, Inc.
• 申请人地址： 100 Indigo Creek Drive Rochester New York 14650 US
• 专利权人： Johnson & Johnson Clinical Diagnostics, Inc.
• 当前专利权人： Johnson & Johnson Clinical Diagnostics, Inc.
• 当前专利权人地址： 100 Indigo Creek Drive Rochester New York 14650 US
• 代理机构： Mercer, Christopher Paul
• 优先权： US810229 19911219
• 主分类号： G01N35/00
• IPC分类号： G01N35/00 ; B65D69/00

摘要：

In known analyzers, test elements are supplied in the form of a stack retained in a cartridge. However, the presence of the cartridge has proved to be not entirely satisfactory due to their expense, the difficulty in determining when they are "empty", and also the problems associated with supplying lables giving the correct information relating to the test elements in a particular cartridge. Described herein is a stack of test elements which are not housed in a cartridge and a method for forming such a stack. A stack (8B) is formed of heat-fusible plastic slide elements (10B, 10'B) which are temporarily and non-destructively fused together so that the stack (8B) can be used without the need for a cartridge. Furthermore, the test elements (10B, 10'B) have one of their edges (16B) colored, the other edges (18B) remaining uncolored so that a bar code (200, 202, 204, 206) can be formed due to simple rotation of each test element in the stack (8B) prior to fusing the elements (10B, 10'B) together.

摘要（中）：

在已知的分析仪中，测试元件以保持在盒中的堆叠的形式提供。 然而，由于其费用，难以确定何时“空”，存在墨盒已经被证明是不完全令人满意的，以及与特定的测试元件相关的提供与测试元件有关的信息的提供的相关问题 墨盒。 这里描述的是不被容纳在盒中的一堆测试元件以及用于形成这种叠层的方法。 堆叠（8B）由热熔塑料滑动元件（10B，10'B）形成，其被临时且非破坏性地熔合在一起，使得可以使用堆叠（8B）而不需要盒。 此外，测试元件（10B，10'B）具有着色的其中一个边缘（16B），另一个边缘（18B）保持未着色，从而可以由于简单而形成条形码（200,202,204,206） 在将元件（10B，10'B）熔合在一起之前，每个测试元件在叠层（8B）中的旋转。

公开/授权文献:

• EP0547710A3  Cartridge-free stacks of slide elements 公开/授权日：1993-08-04

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