基本信息:
- 专利标题： 一种对低压电器进行温升测试的装置
- 申请号：CN202221595791.3 申请日：2022-06-23
- 公开(公告)号：CN218630001U 公开(公告)日：2023-03-14
- 发明人： 熊素琴 , 邹和平 , 郭建宁 , 李扬 , 成达 , 赵兵 , 林繁涛 , 李求洋 , 李龙涛 , 高天予 , 王雅涛 , 赵越 , 李禹凡 , 陈思禹 , 许佳佳 , 杨巍 , 谭琛 , 赵立涛 , 孙南南 , 岳云奇 , 秦程林
- 申请人： 中国电力科学研究院有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清河小营东路15号
- 专利权人： 中国电力科学研究院有限公司
- 当前专利权人： 中国电力科学研究院有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清河小营东路15号
- 代理机构： 北京工信联合知识产权代理有限公司
- 代理人： 姜丽辉
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00 ; G01R1/20
摘要：
本发明公开了一种对低压电器进行温升测试的装置，所述装置包括：第一装置、第二装置、以及测量电路；所述第一装置和所述第二装置为黄铜材料；所述第一装置用于代替电能表接入测量电路，所述第二装置用于代替进线开关或出线开关接入测量电路；将电源装置以及温升测试装置接入测量电路，基于所述测量电路，按照预定的试验步骤，对所述第一装置和第二装置进行温升试验。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |