基本信息:
- 专利标题： 一种基于FPGA的单板测试系统
- 申请号：CN202220979396.9 申请日：2022-04-24
- 公开(公告)号：CN217543320U 公开(公告)日：2022-10-04
- 发明人： 黄家俊 , 石建 , 霍银龙 , 岳峰
- 申请人： 南京国电南自电网自动化有限公司
- 申请人地址： 江苏省南京市江宁区水阁路39号
- 专利权人： 南京国电南自电网自动化有限公司
- 当前专利权人： 南京国电南自电网自动化有限公司
- 当前专利权人地址： 江苏省南京市江宁区水阁路39号
- 代理机构： 南京纵横知识产权代理有限公司
- 代理人： 董建林
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
摘要：
本实用新型公开了一种基于FPGA的单板测试系统，包括：待测单板上的FPGA芯片、CPU芯片、ADC采样芯片、高速总线芯片、开入开出模块以及上位机和测试夹具；所述ADC采样芯片、高速总线芯片和开入开出模块通过内部LocalBus总线挂载在FPGA上，进行数据交互；所述CPU芯片与FPGA芯片互联，所述测试夹具与待测单板互联，所述上位机与测试夹具互联；本实用新型通过外部上位机和测试夹具配合板上FPGA与CPU芯片完成对板件ADC采样芯片、高速总线芯片、开入开出模块的功能检测，整体方案简单可靠，便于连接；以FPGA芯片实现测试数据的收发，适用于配置不同CPU、FPGA芯片的多种板件，整体方案扩展性强，有着良好的应用前景。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |