
基本信息:
- 专利标题: 一种精确测量镁电解槽中镁的厚度和液位的装置
- 申请号:CN202120291734.5 申请日:2021-01-28
- 公开(公告)号:CN214583140U 公开(公告)日:2021-11-02
- 发明人: 郭在伟 , 韩钰 , 祝袁园 , 孙存山 , 李进 , 卢伟伟 , 宁德厚 , 杨伟光 , 刘啟建
- 申请人: 云南国钛金属股份有限公司
- 申请人地址: 云南省楚雄彝族自治州禄丰县勤丰镇沙龙村
- 专利权人: 云南国钛金属股份有限公司
- 当前专利权人: 云南国钛金属股份有限公司
- 当前专利权人地址: 云南省楚雄彝族自治州禄丰县勤丰镇沙龙村
- 代理机构: 成都智言知识产权代理有限公司
- 代理人: 濮云杉
- 主分类号: G01B21/08
- IPC分类号: G01B21/08 ; G01F23/00
摘要:
本实用新型公开了一种精确测量镁电解槽中镁的厚度和液位的装置,属于镁电解技术领域。解决了现有技术中无法方便、快捷的测出镁电解槽中镁层的厚度和液位的问题。本实用新型包括设置在电解槽壳体(8)上的第一测量筒(2)和第二测量筒(5),所述第一测量筒(2)和第二测量筒(5)上均设置有测距装置(1),所述第一测量筒(2)的下端位于镁层(9)的上方,所述第二测量筒(5)的下端位于镁层(9)下方的氯化镁(10)中。本实用新型通过测距装置可以直接测量出镁层的液位,通过电解质(氯化镁)密度和镁密度的差异,比对两个测距装置测量值的差异即可计算出镁层的厚度,方便快捷,测量精度高。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量 |
------G01B21/00 | 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件 |
--------G01B21/02 | .用于计量长度、宽度或厚度 |
----------G01B21/08 | ..用于计量厚度 |