基本信息:
- 专利标题： 面板测试治具
- 专利标题（英）：Panel test jig
- 申请号：CN201621039037.6 申请日：2016-09-05
- 公开(公告)号：CN205991869U 公开(公告)日：2017-03-01
- 发明人： 李响 , 刘杰 , 王伯长 , 布占场 , 陈明 , 邵喜斌
- 申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
- 申请人地址： 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 专利权人： 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司
- 当前专利权人： 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 代理机构： 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理人： 许静; 刘伟
- 主分类号： G01M11/00
- IPC分类号： G01M11/00
The utility model relates to a panel test jig, include: and a support. A two sets of clamping structure, every group that is used for the centre gripping to await measuring the relative a set of opposite side of panel with the fixed panel that awaits measuring clamping structure include a plurality of mobilizable intervals set up in clamping part on the support, be used for the basis the camber of opposite side is adjusted correspondingly the first regulation structure of position in order to fix the panel that awaits measuring of clamping part. The beneficial effects of the utility model are that: the position of every clamping part can be based on the camber of the panel that awaits measuring and be carried out the independent adjustment, can be used to a plurality of different curvatures's panel, improves test fixture's application scope.
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01M | 机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试 |
| ------G01M11/00 | 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 |