基本信息:
- 专利标题： 离子迁移率分析装置及离子迁移率分析方法
- 专利标题（英）：Ion-mobility spectrometer and ion-mobility analysis method
- 申请号：CN200510051340.8 申请日：2005-03-04
- 公开(公告)号：CN1758057A 公开(公告)日：2006-04-12
- 发明人： 桥本雄一郎 , 长谷川英树 , 和气泉
- 申请人： 株式会社日立制作所
- 申请人地址： 日本东京都
- 专利权人： 株式会社日立制作所
- 当前专利权人： 株式会社日立制作所
- 当前专利权人地址： 日本东京都
- 代理机构： 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理人： 郝庆芬
- 优先权： 2004－293191 2004.10.06 JP
- 主分类号： G01N27/62
- IPC分类号： G01N27/62 ; G01N30/88 ; G01N30/72 ; H01J49/40
摘要：
本发明提供一种离子迁移率分析装置，其包括：生成第1离子的离子源1；根据飞行漂移时间分离所述第1离子的第1漂移部(L1)；对由第1漂移部分离出的所述第1离子进行离解，来生成第2离子的离子离解部(Lg)；以及根据飞行漂移时间分离所述第2离子的第2漂移部(L2)；第1漂移部、离子离解部、第2漂移部，被设置在压力为10mTorr以上的腔室内；通过所述结构，能够以低成本进行高分辨率的离子分离检测。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N27/00 | 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料 |
| --------G01N27/62 | .通过测试气体的电离，通过测试放电，例如阴极发射 |