基本信息:
- 专利标题： 集成电路测试卡
- 专利标题（英）：Integrated circuit testing card
- 申请号：CN200410078310.1 申请日：2004-09-21
- 公开(公告)号：CN1752759A 公开(公告)日：2006-03-29
- 发明人： 范宏光 , 洪文兴
- 申请人： 旺矽科技股份有限公司
- 申请人地址： 台湾省新竹县
- 专利权人： 旺矽科技股份有限公司
- 当前专利权人： 旺矽科技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 台湾省新竹县
- 代理机构： 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理人： 王一斌
- 主分类号： G01R1/073
- IPC分类号： G01R1/073 ; G01R31/02 ; G01R31/28 ; G01R31/316
摘要：
本发明是一种集成电路测试卡，所述的集成电路测试卡包含一具有多个信号接点的电路板、一电气连接于该信号接点的探针组件以及一用以调整该探针组件与一待测元件的平行度的调整组件。该探针组件包含一具有多根探针的探针座、一具有多个开孔的固定板以及一设置于该开孔中的弹性销。该多根探针是用以撷取该待测元件的电气特性，而该弹性销电气连接该探针座的探针及该电路板的信号接点。该调整组件包含一具有多个导槽的槽板、一设置于该导槽中的斜楔、至少一连接该斜楔与该探针组件的插销以及至少一设置于斜楔侧边的螺栓。
摘要（英）：
The present invention relates to an integrated circuit testing card. It includes a circuit board with several signal junctions, a probe component electrically-connected with said signal junction and a regulation component for regulating parallelism of said probe component and an element to be tested. Said probe component includes a probe seat with several probes, a fixed plate with several openings and an elastic pin placed in every opening. Said elastic pin is electrically-connected with probe of said probe seat and signal junction of said circuit plate. Besides, said invention also provides the concrete structure of said regulation component.