基本信息:
- 专利标题： 测试存储器模块和存储器模块的中心单元的方法
- 专利标题（英）：Method of testing a memory module and hub of the memory module
- 申请号：CN200510077886.0 申请日：2005-06-13
- 公开(公告)号：CN1722306A 公开(公告)日：2006-01-18
- 发明人： 辛承万 , 苏秉世 , 徐承珍 , 韩愉根
- 申请人： 三星电子株式会社
- 申请人地址： 韩国京畿道
- 专利权人： 三星电子株式会社
- 当前专利权人： 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址： 韩国京畿道
- 代理机构： 北京市柳沈律师事务所
- 代理人： 吕晓章; 马莹
- 优先权： 43000/04 2004.06.11 KR; 1495/05 2005.01.07 KR
- 主分类号： G11C29/00
- IPC分类号： G11C29/00 ; G06F11/00
摘要：
一种测试存储器模块的方法，该方法包括：将存储器模块的中心单元转换至透明模式；将对应于第一地址的第一数据提供给存储器模块的中心单元；将存储器模块的中心单元的第一数据提供给存储器的第一地址；将第一期望数据提供给存储器模块的中心单元；向存储器模块的中心单元输出存储在存储器的第一地址处的第二数据；以及将第二数据与第一期望数据进行比较。
公开/授权文献:
- CN1722306B 测试存储器模块和存储器模块的中心单元的方法 公开/授权日：2011-01-26