基本信息:
- 专利标题： 校正红外辐射多元件传感器输出信号的方法和一种红外辐射多元件传感器系统
- 专利标题（英）：Method for the correction of the output signal of an infra red radiation multiple element sensor
- 申请号：CN00817707.4 申请日：2000-12-22
- 公开(公告)号：CN1636129A 公开(公告)日：2005-07-06
- 发明人： J·施菲尔德克 , K·施托尔克
- 申请人： 帕尔金艾光电子股份有限公司
- 申请人地址： 德国韦斯巴登
- 专利权人： 帕尔金艾光电子股份有限公司
- 当前专利权人： 埃塞力达技术新加坡有限私人贸易公司
- 当前专利权人地址： 德国韦斯巴登
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人： 栾本生; 梁永
- 优先权： 19962938.2 1999.12.24 DE
- 国际申请： PCT/EP2000/013185 2000.12.22
- 国际公布： WO2001/048449 EN 2001.07.05
- 进入国家日期： 2002-06-24
- 主分类号： G01B11/00
- IPC分类号： G01B11/00
摘要：
一种用于校正红外辐射多元件传感器输出信号的方法包括确定和存储传感器中传感器元件的参数和依据所存储的参数产生传感器元件被校正的信号的步骤，其中参数的存储在由制造商提供的存储器中进行，并在校正实施以前参数被发送到与传感器分离的校正设备。传感器有几个传感器元件(11a到11i)，产生一个输出信号，在传感器上提供的存储器(14)用于存储至少一个传感器元件的至少一个参数。一种传感器系统具有一个如以前所描述的传感器(20)，一个可与传感器相连用于信号传输的插座(31)和一个连到插座的校正设备(32)，用于接收传感器输出信号和参数及用于产生被校正的传感器信号。
公开/授权文献:
- CN1293373C 校正红外辐射多元件传感器输出信号的方法和一种红外辐射多元件传感器系统 公开/授权日：2007-01-03
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |