基本信息:
- 专利标题： 用于半导体集成电路的调试系统
- 专利标题（英）：System for debugging semiconductor IC
- 申请号：CN02120056.4 申请日：2002-05-17
- 公开(公告)号：CN1387247A 公开(公告)日：2002-12-25
- 发明人： 菅原彰彦
- 申请人： 索尼电脑娱乐公司
- 申请人地址： 日本东京都
- 专利权人： 索尼电脑娱乐公司
- 当前专利权人： 索尼电脑娱乐公司
- 当前专利权人地址： 日本东京都
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人： 杨凯; 陈霁
- 优先权： 149977/01 2001.05.18 JP; 59998/02 2002.03.06 JP
- 主分类号： H01L21/66
- IPC分类号： H01L21/66 ; H01L21/00 ; G01R31/28 ; H01L27/02 ; G06F11/00 ; G06K5/00
摘要：
采用多个结构与受到调试的LSI(大规模集成电路)相同的半导体集成电路,以此,分别从处于相同工作条件下的这些集成电路中采集不同的内部信号,其中根据所采集的内部信号来分析LSI的工作。通过这样做,就不需要添加LSI的输出端子或者每隔一段时间就切换从输出端子输出的内部信号。这实现了以低成本和简单配置来调试整个LSI。
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H01 | 基本电气元件 |
| ----H01L | 半导体器件；其他类目未包含的电固体器件 |
| ------H01L21/00 | 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备 |
| --------H01L21/66 | .在制造或处理过程中的测试或测量 |