基本信息:
- 专利标题： 用于测量探针的探针头适配器
- 专利标题（英）：Probe head adapter for measuring probe
- 申请号：CN01120989.5 申请日：2001-08-21
- 公开(公告)号：CN1340713A 公开(公告)日：2002-03-20
- 发明人： M·A·格斯福德 , M·W·奈廷加勒 , G·W·雷德
- 申请人： 特克特朗尼克公司
- 申请人地址： 美国俄勒冈州
- 专利权人： 特克特朗尼克公司
- 当前专利权人： 特克特朗尼克公司
- 当前专利权人地址： 美国俄勒冈州
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人： 林长安
- 优先权： 60/226723 2000.08.21 US; 09/668753 2000.09.22 US
- 主分类号： G01R1/067
- IPC分类号： G01R1/067 ; G01R1/073
摘要：
一种用于测量探针的探针头适配器具有至少一个第一导电构件,其一端有孔而另一端可设有探测触针。所述导电构件的孔中设有导电弹性体,其具有足够的抗拉强度,压缩永久变形,硬度,挠曲力,延展率和恢复率,适于重复将所述导电构件与所述测量探针的探针头固定。构件紧固器可装设在测量探针上,且在其一端有容纳测量探针的凹槽。在构件紧固器的另一端设有至少第一孔,延伸到所述凹槽并与所述测量探针的探针头对准。导电构件安装在紧固器的孔中,以使探针头穿过所述弹性体,且探测触针从所述紧固器延伸出来。所述探测触针可以设置成轴的一端逐渐收缩为一点的的探针头,或者设置成带有导电构件中容纳弹性触针的孔的矩形插针适配器。所述探针头适配器可用于单头测量探针,也可用于差动式测量探针。
公开/授权文献:
- CN1250973C 用于测量探针的探针头适配器 公开/授权日：2006-04-12
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R1/00 | 包含在G01R5/00至G01R13/00和G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件 |
| --------G01R1/02 | .一般结构零部件 |
| ----------G01R1/06 | ..测量引线；测量探针 |
| ------------G01R1/067 | ...测量探针 |