基本信息:
- 专利标题： 阵列天线校准装置和阵列天线校准方法
- 专利标题（英）：Array antenna calibration apparatus and array antenna calibration method
- 申请号：CN03102791.1 申请日：2003-01-21
- 公开(公告)号：CN1207574C 公开(公告)日：2005-06-22
- 发明人： 平部正司
- 申请人： 日本电气株式会社
- 申请人地址： 日本东京都
- 专利权人： 日本电气株式会社
- 当前专利权人： 日本电气株式会社
- 当前专利权人地址： 日本东京都
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 戎志敏
- 优先权： 2002-011751 2002.01.21 JP
- 主分类号： G01S7/40
- IPC分类号： G01S7/40 ; H01Q3/26 ; H01Q21/00 ; G01R29/10
摘要：
本发明提供一种结构简单且不昂贵，而且能同时保证阵列天线精确校准的阵列天线校准装置。这种阵列天线校准装置包括供给源装置，用于提供原始的校准信号分别给一组组成天线阵列的天线单元，原始校准信号在天线单元间互相正交；相位和幅度特性计算装置，用于计算从天线单元发射并被邻近天线单元接收的校准信号和有关接收的校准信号的原始校准信号之间的相关；相关校准因子计算装置，用于根据各天线单元的相位和幅度特性获得构成阵列天线的所有天线单元间的相关校准因子；校准装置，根据相关校准因子将供给的发射信号校准到各天线单元。
公开/授权文献:
- CN1434300A 阵列天线校准装置和阵列天线校准方法 公开/授权日：2003-08-06
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01S | 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 |
| ------G01S7/00 | 与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件 |
| --------G01S7/02 | .与G01S13/00组相应的系统的 |
| ----------G01S7/40 | ..监测或校准装置 |