基本信息:
- 专利标题： X射线成像仪
- 专利标题（英）：X-ray imaging instrument
- 申请号：CN99106101.2 申请日：1999-04-26
- 公开(公告)号：CN1207557C 公开(公告)日：2005-06-22
- 发明人： 及川四郎 , 足立晋 , 竹本隆之 , 山根康邦
- 申请人： 株式会社岛津制作所 , 夏普株式会社
- 申请人地址： 日本京都市
- 专利权人： 株式会社岛津制作所,夏普株式会社
- 当前专利权人： 株式会社岛津制作所,夏普株式会社
- 当前专利权人地址： 日本京都市
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 朱进桂
- 优先权： 118801/1998 1998.04.28 JP
- 主分类号： G01N23/04
- IPC分类号： G01N23/04 ; H05G1/44
摘要：
一种为获得X射线透视图像或类似的图像使用二维射线传感器的仪器。在生产性射线成像之前用小剂量进行监控射线成像。生产性射线成像的射线成像条件，特别是射线发射周期或射线发生器的管电流是基于在监控射线成像时从二维射线传感器上感兴趣区域收集的电荷量与生产性射线成像时在感兴趣区域上要求的电荷量之比率计算的。为了获得高质量的图像，生产性射线成像将依据计算结果进行操作。
公开/授权文献:
- CN1234502A X射线成像仪 公开/授权日：1999-11-10
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |