基本信息:
- 专利标题： 夹杂物析出物精细化检测用金相试样及其制备方法、多指标表征方法
- 申请号：CN202411078729.0 申请日：2024-08-07
- 公开(公告)号：CN118937377A 公开(公告)日：2024-11-12
- 发明人： 杨鹏 , 刘正东 , 花勇 , 杨晨 , 王龙飞 , 吴俊洁 , 孙炎 , 蔡夏燕 , 苏诚
- 申请人： 浙江久立特材科技股份有限公司
- 申请人地址： 浙江省湖州市南浔区双林镇镇西
- 专利权人： 浙江久立特材科技股份有限公司
- 当前专利权人： 浙江久立特材科技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省湖州市南浔区双林镇镇西
- 代理机构： 浙江千克知识产权代理有限公司
- 代理人： 崔国艳
- 主分类号： G01N23/2202
- IPC分类号： G01N23/2202 ; G01N23/2251 ; G01N1/28 ; G01N1/32 ; G01N1/34
摘要：
本发明提供一种夹杂物析出物精细化检测用金相试样的制备方法，包括以下步骤：以材料的物理性能为基础，构建不同物理性能下的司特尔金相制样图；将司特尔金相制样图划分成多个磨抛区域，构建与各个磨抛区域一一对应的磨抛方法；选定高品质钢试样，确定高品质钢试样进行磨抛加工的磨抛工序；将高品质钢试样切割成一定尺寸的试块；将试块装夹在磨抛机上，根据设置好的磨抛工序对试块进行磨抛加工；对磨抛加工后的试块进行抛光，超声清洗，清理磨抛试块表面多余的抛光剂和污渍，风干后，获得试样。本发明的有益效果是：构建对2μm以下的夹杂物或析出物检测进行精细化制样方法及表征方法，弥补了现有2μm以下的夹杂物或析出物检测制样的空白。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/2202 | ..样品制备 |