基本信息:
- 专利标题： 一种用于超大型高精度反射面板的精密测量与调节方法
- 申请号：CN202410997569.3 申请日：2024-07-24
- 公开(公告)号：CN118936307A 公开(公告)日：2024-11-12
- 发明人： 王明明 , 李东升 , 刘嘉奇 , 林芯竹
- 申请人： 北京航空航天大学
- 申请人地址： 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人： 北京航空航天大学
- 当前专利权人： 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构： 北京慧泉知识产权代理有限公司
- 代理人： 王顺荣; 唐爱华
- 主分类号： G01B11/00
- IPC分类号： G01B11/00 ; H01Q15/14 ; H01Q19/10 ; G01B5/00
摘要：
本发明提出一种用于超大型高精度反射面板的精密测量与调节方法，包括以下步骤：一：激光跟踪仪测量坐标系与反射面暗室实际坐标系对齐；二：扫描测量获得测量坐标系下面板表面的测量点云坐标数据；三：最佳拟合实际反射面板点云与理论模型；四：计算反射面板各安装调整机构调整量；五：利用利用激光跟踪仪和数字千分表共同监测调整量，调整各调节机构达到相应调整量；六：迭代调整同一块反射面板；七：计算并消除激光跟踪仪随装调时间推移产生的漂移系统误差，依次调整所有反射面板。本发明利用激光跟踪仪测量范围大、动态性好、效率高等优点，用其实现反射面型面精度及空间姿态的测量。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |