基本信息:
- 专利标题： 电子检测系统
- 申请号：CN202410509867.3 申请日：2024-04-26
- 公开(公告)号：CN118858866A 公开(公告)日：2024-10-29
- 发明人： 陈显德
- 申请人： 优显科技股份有限公司
- 申请人地址： 中国台湾台北市信义区忠孝东路5段1之1号13楼
- 专利权人： 优显科技股份有限公司
- 当前专利权人： 优显科技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 中国台湾台北市信义区忠孝东路5段1之1号13楼
- 代理机构： 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理人： 袁策
- 优先权： 63/462,870 2023.04.28 US
- 主分类号： G01R31/26
- IPC分类号： G01R31/26 ; G01R35/00 ; G01M11/02
摘要：
本发明公开一种电子检测系统，包括电子装置、检测器及存储器。电子装置包括电路基板、多个光电元件以及多个可调电流源电路。每一个光电元件响应于多个电流值而具有一个或多个峰值发射波长。这些可调电流源电路设置于该电路基板，并与这些光电元件电性连接。检测器提取这些光电元件的一个对应的光电元件的特征值。存储器存储的一个或多个查找表依据这些光电元件的这些特征值及这些电流值而定；其中，各可调电流源电路响应于该或这些查找表将输入电流传送到这些光电元件的一个对应的光电元件，以执行选定的一个峰值发射波长。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/26 | .单个半导体器件的测试 |