![基于高温共烧陶瓷的高深径比DPC基板的制备方法](/CN/2024/1/191/images/202410956209.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 基于高温共烧陶瓷的高深径比DPC基板的制备方法
- 申请号:CN202410956209.9 申请日:2024-07-17
- 公开(公告)号:CN118841331A 公开(公告)日:2024-10-25
- 发明人: 杨鑫 , 张鹤 , 段强 , 杨振涛 , 刘林杰
- 申请人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 申请人地址: 河北省石家庄市合作路113号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市合作路113号
- 代理机构: 石家庄国为知识产权事务所
- 代理人: 王振珍
- 主分类号: H01L21/48
- IPC分类号: H01L21/48
摘要:
本发明提供了一种基于高温共烧陶瓷的高深径比DPC基板的制备方法,属于电子封装技术领域,包括:在生瓷片上按预设位置进行激光打孔,形成通孔;在通孔内填满金属浆料;在生瓷片的背面利用真空吸盘将所述通孔内的金属浆料吸出,在通孔侧壁挂浆形成一层浆料覆膜;将形成浆料覆膜的生瓷片堆叠层压成型,放入高温烧结炉进行高温共烧形成熟瓷片,此时通孔侧壁的浆料覆膜形成金属种子层;利用抛光机将熟瓷片的正背两表面抛光处理;经贴合干膜、光刻显影,完成金属化线路层的制作;去除干膜,经干燥后,完成DPC基板的制作。采用本发明制备的高深径比填充的DPC基板,由于通孔侧壁上能够形成完整的金属种子层,大大提升了DPC基板工作的可靠性。