基本信息:
- 专利标题： 一种压敏电阻器的老化性能测试方法
- 申请号：CN202411289789.7 申请日：2024-09-14
- 公开(公告)号：CN118795266A 公开(公告)日：2024-10-18
- 发明人： 赵明辉 , 黄哲 , 李晓丹 , 陈衍泽 , 李光钦 , 蔡燕玲 , 钟珩 , 陈逸 , 申建峰 , 谢师凯
- 申请人： 汕头保税区松田电子科技有限公司
- 申请人地址： 广东省汕头市保税区松田科技园东区、松田科技园西区
- 专利权人： 汕头保税区松田电子科技有限公司
- 当前专利权人： 汕头保税区松田电子科技有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省汕头市保税区松田科技园东区、松田科技园西区
- 代理机构： 北京索悦知识产权代理有限公司
- 代理人： 高海涛
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00
摘要：
本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种压敏电阻器的老化性能测试方法；包括：获取压敏电阻器在一定时间内受电流冲击的每次功耗数据和受电流冲击的数量；基于每次功耗数据、受电流冲击的数量和预设指数阈值，获取每次遭受冲击电流的应对能力系数；基于每次遭受冲击电流的应对能力系数、预设应对能力系数阈值、在一定时间内受电流冲击的每次功耗数据和受电流冲击的数量，获取压敏电阻器的性能老化指数；基于压敏电阻器的性能老化指数、每次遭受冲击电流的应对能力系数和受冲击电流的次数，对压敏电阻器进行检测，得到检测结果。本发明的目的是解决现有的测试方法存在滞后性，对压敏电阻器检测的准确性低的技术问题。
公开/授权文献:
- CN118795266B 一种压敏电阻器的老化性能测试方法 公开/授权日：2024-11-29
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |