基本信息:
- 专利标题： 高分辨率光栅光谱仪
- 申请号：CN202411227441.5 申请日：2024-09-03
- 公开(公告)号：CN118730301A 公开(公告)日：2024-10-01
- 发明人： 李晓天 , 冯世波 , 宋楠 , 孙雨琦 , 吉日嘎兰图 , 于硕 , 糜小涛 , 孙慈 , 初启航
- 申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址： 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 专利权人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人地址： 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 代理机构： 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 高一明
- 主分类号： G01J3/28
- IPC分类号： G01J3/28 ; G01J3/18 ; G01N21/31 ; G01N21/01
摘要：
本发明涉及光谱分析仪器技术领域，尤其涉及一种高分辨率光栅光谱仪，光源单元向第一光线折转结构发出连续光谱；第一光线折转结构将连续光谱中波段不同的光在不同时刻以不同的出射角度向光线整形单元传播；光线整形单元将接收的光束进行整形后传播到平面光栅的表面；平面光栅将接收的光束进行分光并传递到第二光线折转结构上；第二光线折转结构收集分光后的光束并传递到探测单元中；探测单元获取接收的光束的光谱信息。本发明通过光线折转结构使光源发出的不同波段的光分时并以不同角度传播到平面光栅，平面光栅上接受到的不同波段的光波入射角不同，通过调整入射角度，可实现对不同波段光谱信息的测量和分析。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J3/00 | 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色 |
| --------G01J3/28 | .光谱测试 |