![一种太阳日照时数测量方法](/CN/2024/1/128/images/202410640264.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 一种太阳日照时数测量方法
- 申请号:CN202410640264.7 申请日:2024-05-22
- 公开(公告)号:CN118706263A 公开(公告)日:2024-09-27
- 发明人: 张健 , 刘达新 , 孙景睿 , 崇伟 , 张宇 , 吕文华 , 杨松洲 , 李旭光 , 赵斌 , 沙奕卓 , 徐达 , 何洋 , 孙高飞 , 刘石 , 孟遥 , 张国玉
- 申请人: 长春理工大学 , 北京象元气象观测技术研究院
- 申请人地址: 吉林省长春市朝阳区卫星路7186号
- 专利权人: 长春理工大学,北京象元气象观测技术研究院
- 当前专利权人: 长春理工大学,北京象元气象观测技术研究院
- 当前专利权人地址: 吉林省长春市朝阳区卫星路7186号
- 代理机构: 北京中理通专利代理事务所(普通合伙)
- 代理人: 刘慧宇
- 主分类号: G01J1/42
- IPC分类号: G01J1/42 ; G01J1/02 ; G01J1/04 ; G01W1/12 ; G06F17/10
摘要:
一种太阳日照时数的测量方法,属于太阳能利用及开发技术领域,包括以下步骤:步骤一、搭建高精度全光谱热释电日照测量系统;步骤二、根据所在地的纬度调整所述俯仰调整装置的俯仰角度,使太阳辐射经所述旋转反射式光学系统汇聚于热释电探测器;步骤三、热释电探测器测试数据达到120W/m
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法 |
------G01J1/00 | 光度测定法,例如照相的曝光表 |
--------G01J1/42 | .采用电辐射检测器 |