基本信息:
- 专利标题： 光学元件中频误差对成像系统像质影响的快速预测方法
- 申请号：CN202411071019.5 申请日：2024-08-06
- 公开(公告)号：CN118641157B 公开(公告)日：2024-10-18
- 发明人： 李龙响 , 刘夕铭 , 颜克雄 , 李兴昶 , 张峰 , 张学军
- 申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址： 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 专利权人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人地址： 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 代理机构： 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 张羽
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02 ; G06N3/0455 ; G06N3/08
摘要：
本发明涉及误差对系统质量影响预测技术领域，尤其涉及一种光学元件中频误差对成像系统像质影响的快速预测方法。包括：确定成像系统结构参数；实际搭建初始理想成像系统，装调，记录所有光学元件中频误差信息；测定成像系统像质量评价参数并记录；将某一光学元件进行替换，使得表面中频误差不一致，记录中频误差信息以及在系统中的结构参数；测定像质量评价参数并记录；重复上述步骤，得到误差信息数据集和像质信息数据集；构建Transformer网络，将数据集输入后进行训练，得到预测网络模型；将待预测光学元件安装至成像系统中，获取中频误差信息并输入至预测网络模型中，预测其对成像系统的像质影响。优点在于：计算耗时少，预测快速。
公开/授权文献:
- CN118641157A 光学元件中频误差对成像系统像质影响的快速预测方法 公开/授权日：2024-09-13
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01M | 机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试 |
| ------G01M11/00 | 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 |
| --------G01M11/02 | .光学性质的测试 |