基本信息:
- 专利标题： 一种可原位监测钙钛矿薄膜闪蒸干燥时间的装置及方法
- 申请号：CN202411118447.9 申请日：2024-08-15
- 公开(公告)号：CN118632604B 公开(公告)日：2024-11-08
- 发明人： 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名
- 申请人： 深圳黑晶光电技术有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市龙华区大浪街道陶元社区鹊山光浩工业园E栋201
- 专利权人： 深圳黑晶光电技术有限公司
- 当前专利权人： 深圳黑晶光电技术有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市龙华区大浪街道陶元社区鹊山光浩工业园E栋201
- 主分类号： H10K71/70
- IPC分类号： H10K71/70 ; H10K71/16 ; G01N21/84 ; G01B11/06
摘要：
本发明实施例提供一种可原位监测钙钛矿薄膜闪蒸干燥时间的装置及方法，属于钙钛矿电池技术领域。包括发射光源、载物台、漫射器，以及依次连接的光电传感器、图像处理器、像素采集模块、编码识别模块及输出模块；利用发射光源发射光线，经由漫射器到达载物台上的薄膜样品并输出反射光，所述光电传感器、图像处理器、像素采集模块、编码识别模块及输出模块依次对反射光进行解析、处理以及图像化等操作，实现对钙钛矿薄膜闪蒸干燥过程中的厚度以及时间的实时精确监控，提高薄膜大规模生产效率。
公开/授权文献:
- CN118632604A 一种可原位监测钙钛矿薄膜闪蒸干燥时间的装置及方法 公开/授权日：2024-09-10
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H10 | 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件 |
| ----H10K | 有机电固态器件 |
| ------H10K71/00 | 专门适用于制造或处理本小类包括的有机器件 |
| --------H10K71/70 | .测试，例如，加速寿命测试 |