基本信息:
- 专利标题： 一种含难熔元素的单晶高温合金IC21三维晶体取向的快速测定方法、装置、介质及产品
- 申请号：CN202410658704.1 申请日：2024-05-27
- 公开(公告)号：CN118604037A 公开(公告)日：2024-09-06
- 发明人： 裴延玲 , 王海波 , 张双琪 , 李树索 , 宫声凯
- 申请人： 北京航空航天大学
- 申请人地址： 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人： 北京航空航天大学
- 当前专利权人： 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构： 北京高沃律师事务所
- 代理人： 万慧华
- 主分类号： G01N23/2251
- IPC分类号： G01N23/2251 ; G01N23/22 ; G01N23/2202 ; G01N23/00 ; G01N21/84 ; G01N25/00 ; G01N25/20
摘要：
本发明公开了一种含难熔元素的单晶高温合金IC21三维晶体取向的快速测定方法、装置、介质及产品，涉及单晶高温合金技术领域。方法包括：对背散射照片进行灰度处理，得到背散射灰度图片；基于背散射灰度图片，确定TCP相的方向；根据TCP相的方向，确定待测单晶高温合金的三维晶体取向。三维晶体取向包括一次主取向、二次取向和三次取向。本发明基于背散射灰度图片中TCP相的方向确定三维晶体取向，能够提高含难熔元素单晶高温合金的三维晶体取向测定精度、效率以及安全性。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/225 | ..利用电子或离子微探针 |
| ------------G01N23/2251 | ...使用入射电子束，例如扫描电子显微镜 |