基本信息:
- 专利标题： 低压交直流配电柜试验系统以及方法
- 申请号：CN202410644838.8 申请日：2024-05-21
- 公开(公告)号：CN118584219A 公开(公告)日：2024-09-03
- 发明人： 陈伟 , 星国龙 , 谢文彬 , 王明 , 张伟 , 张建亮 , 张韬 , 余惠敏 , 刘伟 , 李杰 , 张中杰 , 王建涛 , 韩存效 , 赵芳魁 , 李浩哲 , 池波澜 , 陈鸿鑫 , 李暾 , 张璐璐 , 王科 , 吴水平
- 申请人： 中广核核电运营有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层
- 专利权人： 中广核核电运营有限公司
- 当前专利权人： 中广核核电运营有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层
- 代理机构： 深圳中一联合知识产权代理有限公司
- 代理人： 阳方玉
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00 ; G01R31/12 ; G01R31/327
摘要：
本申请提供一种低压交直流配电柜试验系统以及方法，属于电力设备检测技术领域。主控制模块分别与直流数控电源模块和交流数控电源模块连接，用于根据试验信息，输出直流控制指令和交流控制指令。直流数控电源模块与接口模块连接，用于根据直流控制指令，输出直流信号至接口模块。交流数控电源模块与接口模块连接，用于根据交流控制指令，输出交流信号至接口模块。接口模块与主控制模块连接，用于将直流信号和交流信号发送至试验设备，并采集试验设备的试验结果信息，将试验结果信息发送至主控制模块，解决了传统依靠人力调节旋钮反复拆装移动多个仪器并采用万用表逐个测量导致的工作效率低的技术问题。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |