基本信息:
- 专利标题： 刷新电路检测方法及设备
- 申请号：CN202310016536.1 申请日：2023-01-06
- 公开(公告)号：CN118351904A 公开(公告)日：2024-07-16
- 发明人： 史腾
- 申请人： 长鑫存储技术有限公司
- 申请人地址： 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
- 专利权人： 长鑫存储技术有限公司
- 当前专利权人： 长鑫存储技术有限公司
- 当前专利权人地址： 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
- 主分类号： G11C11/406
- IPC分类号： G11C11/406 ; G11C11/4063 ; G11C11/402
摘要：
本公开提供了一种刷新电路检测方法及设备，涉及半导体技术领域，应用于存储器，该存储器包括多个存储块，各存储块包括多个数据线分组，各数据线分组中包括多根数据线，上述方法包括：确定预期刷新方案，该预期刷新方案包括各存储块每次刷新的数据线的第一根数，以及各存储块每次刷新时访问的数据线分组的数量；接收刷新指令，监测各存储块中的每个数据线分组每次刷新的数据线的第二根数，以及各存储块中的每个数据线分组在最近的K次刷新中被访问的数据线的地址；根据所述第二根数与地址，确定刷新电路每次刷新的结果是否符合预期刷新方案。本公开可以准确检测出刷新电路每次刷新数据线的根数及相对位置是否符合预期，提升刷新电路的刷新准确率。
IPC结构图谱:
| G11C11/56 | 组优先于G11C11/02至G11C11/54中各组。 |
| --G11C11/19 | .在谐振电路中应用非线性电抗器件的 |
| ----G11C11/26 | ..应用放电管的 |
| ------G11C11/40 | ...应用晶体管的 |
| --------G11C11/401 | ....形成需要刷新或电荷再生的单元的，即，动态单元的 |
| ----------G11C11/406 | .....刷新或电荷再生周期的管理或控制 |