基本信息:
- 专利标题： 一种检测装置和检测方法
- 申请号：CN202410303917.2 申请日：2024-03-18
- 公开(公告)号：CN118274758A 公开(公告)日：2024-07-02
- 发明人： 朱凤朝 , 周宣赤 , 朱世义 , 樊鑫云
- 申请人： 北京航天益森风洞工程技术有限公司
- 申请人地址： 北京市丰台区云岗西路17号32楼208、209、210、308、309、310房间
- 专利权人： 北京航天益森风洞工程技术有限公司
- 当前专利权人： 北京航天益森风洞工程技术有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市丰台区云岗西路17号32楼208、209、210、308、309、310房间
- 代理机构： 北京中强智尚知识产权代理有限公司
- 代理人： 张唯
- 主分类号： G01B21/00
- IPC分类号： G01B21/00 ; G01B21/20 ; G01G19/00 ; F42B35/00
摘要：
本申请提供了一种检测装置和检测方法，包括操作台和检控部，操作台上相对设置有第一检测部和第二检测部，第一检测部与第二检测部之间设有待测工件，第一检测部上具有若干个第一距离传感器，第一距离传感器用于感应相距待测工件的第一端面的距离信息，第二检测部上具有若干个第二距离传感器，第二距离传感器用于感应相距待测工件的第二端面的距离信息，检控部存储有若干个第一距离传感器和若干个第二距离传感器的坐标信息，检控部分别与第一检测部和第二检测部电连接，检控部基于若干个第一距离传感器和若干个第二距离传感器的坐标信息和若干个第一距离传感器和若干个第二距离传感器传输的距离信息确定第一端面和第二端面的形状及尺寸。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B21/00 | 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件 |