基本信息:
- 专利标题： 一种红外阵列传感器检测温度的补偿方法、装置及系统
- 申请号：CN202410234886.X 申请日：2024-03-01
- 公开(公告)号：CN118258499A 公开(公告)日：2024-06-28
- 发明人： 张哲 , 熊斌 , 李隆辉 , 王美琳 , 孙先利
- 申请人： 建科公共设施运营管理有限公司
- 申请人地址： 北京市西城区德胜门外大街36号楼16层1单元1601
- 专利权人： 建科公共设施运营管理有限公司
- 当前专利权人： 建科公共设施运营管理有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市西城区德胜门外大街36号楼16层1单元1601
- 代理机构： 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 韩登营
- 主分类号： G01J5/53
- IPC分类号： G01J5/53 ; G01J5/56 ; G06N3/0499 ; G06N3/048 ; G06N3/08
摘要：
本申请涉及一种红外阵列传感器检测温度的补偿方法、装置及系统，该方法包括：获得黑体测量表面温度和环境温度，其中，所述黑体测量表面温度通过红外阵列传感器测量；根据所述黑体测量表面温度和所述环境温度，得到黑体理想表面温度；获得所述黑体和所述红外阵列传感器的距离；将所述黑体理想表面温度和所述距离输入到经训练的温度补偿神经网络模型中，得到黑体真实表面温度；使用所述黑体真实表面温度矫正所述红外阵列传感器。本申请采用温度补偿神经网络模型对红外阵列传感器检测温度进行补偿，无需进行多个红外热成像设备的一致性校验，可以节省时间和资源。本申请计算简单。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J5/00 | 辐射高温测定法 |
| --------G01J5/50 | .用下列各组指明的技术 |
| ----------G01J5/52 | ..应用与参考源作比较的方法，例如，隐丝高温计 |
| ------------G01J5/53 | ..参考源，例如标准灯；黑体 |