基本信息:
- 专利标题： 检测通道及检测装置
- 申请号：CN202410411362.3 申请日：2024-04-07
- 公开(公告)号：CN118225815A 公开(公告)日：2024-06-21
- 发明人： 张丽 , 李亮 , 洪明志 , 王子楠 , 谢磊 , 常铭
- 申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- 申请人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人： 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人： 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 范芳茗
- 主分类号： G01N23/046
- IPC分类号： G01N23/046 ; G01T1/16 ; G01T7/02
摘要：
本发明提供一种检测通道及检测装置，检测通道包括间隔设置的多个固定通道和间隔设置的多个移动通道；移动通道设有检测间隙，检测间隙用于使检测设备产生的射线穿过以对检测通道内的待测物体进行检测；多个固定通道和多个移动通道依次交错连通设置，且每个移动通道位于相邻的两个固定通道之间，移动通道与相邻的两个固定通道活动连接，以使移动通道的检测间隙在检测通道上的位置可调。本发明的检测通道，通过移动通道的移动，使得检测间隙在检测通道上的位置能够较好地适配待测物体的尺寸，在保障检测效果的前提下，使得待测物体在相邻两个检测间隙之间移动的时长最小化，进而有利于提升检测效率。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |
| ------------G01N23/046 | ...应用X光断层技术，如计算机X光断层技术 |