基本信息:
- 专利标题： 多通道晶体管瞬态辐照测试装置
- 申请号：CN202410233998.3 申请日：2024-03-01
- 公开(公告)号：CN118169531A 公开(公告)日：2024-06-11
- 发明人： 易涛 , 杨冬 , 余波 , 赵宗清 , 刘品阳 , 周航 , 王新明 , 许献国
- 申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址： 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 代理机构： 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 龙玉洪
- 主分类号： G01R31/26
- IPC分类号： G01R31/26 ; G01R1/04
摘要：
本发明公开了一种多通道晶体管瞬态辐照测试装置，包括有测试筒安装盘，所述测试筒安装盘安装在滑台上；所述测试筒安装盘为弧形盘，该测试筒安装盘上开有至少1个测试筒安装孔，至少1个所述测试筒安装孔围绕所述测试筒安装盘圆心等距分布，每个所述测试筒安装孔内安装有一个测试筒，每个所述测试筒均指向激光等离子体脉冲辐射源。有益效果：在晶体管进行辐照测试时，本发明能对晶体管以外的电子元器件进行辐射屏蔽，提高晶体管辐照测试准确性。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/26 | .单个半导体器件的测试 |